Уровень зарядки конденсатора. Мощность переменного тока 220 В умножается, а затем выводится на конденсаторы через схему управления зарядкой. Плата управления заряжает конденсаторы в соответствии с заданным значением напряжения и контролирует напряжение конденсатора в режиме реального времени, чтобы обеспечить стабильность.
**Схема защиты:** Схема защиты включает в себя как программную, так и аппаратную защиту, работая одновременно и обеспечивая работу конденсаторов в допустимом диапазоне напряжений.
**Управление GBT:** IGBT подключен к рабочей цепи ксеноновой лампы для управления ее работой. IGBT обычно находится в проводящем состоянии, то есть на ксеноновой лампе всегда присутствует напряжение. При возникновении высокого напряжения загорается ксеноновая лампа, а схема управления отключает IGBT на основании фактических результатов испытаний солнечных элементов, гася ксеноновую лампу.
**Схема генерации высокого напряжения ксеноновой лампы:** Высокое напряжение около 9 кВ генерируется с помощью самоиндуцируемой электродвижущей силы индуктора. Соответственно увеличивается и ток электрода.
Благодаря последовательному включению в схему ток на коллекторе (С) можно считать выходным током испытуемого солнечного элемента. Когда ток коллектора равен току короткого-замыкания проверяемого солнечного элемента, контроль выходного напряжения испытуемого солнечного элемента показывает, что выходное напряжение равно нулю, что завершает весь процесс испытания. Объединив кривую выходного напряжения тестируемого элемента (DUT) и кривую, полученную от токоизмерительного резистора, можно построить характеристическую кривую I-V DUT.
Особенности схемы. В ней используется специальный высокоточный-точный-операционный усилитель, чувствительный к току, который может эффективно обнаруживать полезные сигналы среди шума. Он использует цифровой потенциометр, а усиление усилителя регулируется с помощью программного управления. Параметры усиления можно установить для разных тестируемых устройств, адаптируя их к различным приложениям тестирования тестируемых устройств путем изменения режима работы программного обеспечения без изменения аппаратного обеспечения.